近年來，顆粒測試技術進展飛快，粒度測試方法已達百余種。根據(jù)測試原理的不同，主要分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數(shù)器、電阻式顆粒計數(shù)器、顆粒圖像分析儀等幾大類。

　　因具備測量粒度范圍寬、速度快、精度高、操作方便、易于維護等優(yōu)點，激光粒度儀已逐漸成為顆粒粒度測試領域中的主流產(chǎn)品。但是由于顆粒測試需求的多樣性，顆粒市場細分已露端倪。

　　隨著納米科技的發(fā)展，納米顆粒測試越來越受到重視，用于納米顆粒測試的動態(tài)光散射技術突飛猛進，光子相關技術也炙手可熱，國外廠商已研發(fā)出動態(tài)光散射激光粒度儀的成型產(chǎn)品，國內(nèi)部分廠家已成功研制出基于FPGA技術的數(shù)字相關器技術，國產(chǎn)動態(tài)光散射納米粒度儀也將紛紛問世。

　　另外，隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量要求的不斷提高及工業(yè)生產(chǎn)過程自動化的逐漸發(fā)展，在線顆粒測試技術將成為顆粒行業(yè)競爭的焦點，而國內(nèi)在這方面還處于空白。

　　粒度儀新品的詳細內(nèi)容見如下各分類。

　　一、納米粒度儀

SZ-100 納米粒度/Zeta電位分析儀

HORIBA，LTD株式會社堀場制作所北京事務所　上市時間：2010年3月

　　**點：

　　1、 超小體積設計，超寬動態(tài)光散射測量范圍：0.3nm～8000nm。

　　2、 可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量，全方位表征單一體系納米尺度粒子。

　　3、雙光路系統(tǒng)(90°和173°)適用于更寬濃度范圍的樣品測量;在單一納米粒子專用光學系統(tǒng)中，采用更低雜散光90°檢測光學系統(tǒng)。

　　4、 從 PPM 級的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原液狀態(tài)下取樣測定。

　　5、 微小容量電泳樣品池是 HORIBA Scientific 獨自研發(fā)，可以測定取樣調(diào)查僅100μL的 Zeta 電位。

VASCO系列納米粒度儀

美國麥克儀器公司　上市時間：2010年2月

　　**點：

　　1、 基于法國石油研究所(IFP)****技術，VASCO粒度分析儀的工作原理是背散射光的動態(tài)光散射技術。

　　2、 結(jié)合了背散射光檢測器和控制樣品厚度的性能，可避免多散射的影響，實現(xiàn)在高濃度混濁懸浮液中的準確測量。

　　3、 另外，通常情況下不需要稀釋樣品，樣品可連續(xù)測量。

　　4、 ****技術，無消耗部件，易于清洗。

　　二、激光粒度儀

激光粒度分析儀Easizer30(易賽30)

珠海歐美克儀器有限公司  上市時間：2010年1月

　　**點：

　　Easizer30(易賽30)激光粒度分析儀*大的特點是完全自動化。

　　1、 操作極其方便：只需按下“自動測量”鍵，全部測量過程就能自動完成，避免了人為因素所造成的結(jié)果偏差。

　　2、 可預置*佳測試模式：針對各種不同的樣品，可預置不同的*佳測試參數(shù)組合，使用戶能方便地獲得*可靠、高再現(xiàn)性的測試結(jié)果。

　　3、 儀器狀態(tài)自檢：確保儀器在正常狀態(tài)下工作。一旦出現(xiàn)故障，也方便維修和維護。

　　4、 多種進樣系統(tǒng)：方便切換，包括普通型、微量型和耐腐蝕型，滿足多種測試需求。

　　三、顆粒計數(shù)器

PLD-0201 顆粒計數(shù)器(Particle Counter)

普洛帝中國服務中心/普洛帝測控技術有限公司  上市時間：2010年1月

　　**點：

　　1、 采用光阻法(遮光式)原理，適用于對油液、有機液體、聚合物溶液等進行固體顆粒污染檢測。

　　2、內(nèi)置油液GB/T14039-2002(ISO4406：1999)液壓傳動油液固體顆粒污染等級代號標準和NAS1638油液潔凈度等級標準。還可根據(jù)用戶的要求，內(nèi)置用戶所需標準。

　　3、 內(nèi)置閾值-粒徑曲線，可設定通道粒徑值。精密柱塞泵實現(xiàn)進樣速度恒定和進樣體積**的控制。

　　4、 PULL 8.0軟件有多種語言版本，處理功能豐富，可根據(jù)標準給出油液等級，繪制分布直方圖等。

　　5、 引入第三方公正質(zhì)檢機構(gòu)普研檢測，實現(xiàn)質(zhì)檢、生產(chǎn)、研發(fā)、銷售專業(yè)化運作。